GB/T 42706.2-2023 電子元器件 半導體器件長期貯存 第2部分：退化機理

本文件描述了電子元器件在實際貯存條件下隨時間推移的退化機理和退化方式，以及評估一般退化機理的試驗方法。 通常本文件與IEC 62435-1一起使用，用于預計貯存時間超過12個月的長期貯存器件。 特定類型電子元器件的退化機理在IEC 62435-5～IEC 62435-9中加以規定。